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-ZEISS Supra55
應用簡介：
金屬、陶瓷、半導體、礦物和納米級一維、二維和三維材料的表面(miàn)、斷面(miàn)形貌觀察，樣(yàng)品特定區域化學(xué)元素定性和半定量分析。
