檢測設備

透射電子顯微鏡JEM2100F(左圖）

高分辨透射電子顯微鏡JEM2100（右圖）

應用簡介：

點分辨率0.19nm，線分辨率0.10nm，用于基礎研究、顯微形貌觀察、固體物質微結構研究、高分辨顯微術、晶體結構及晶體缺陷分析、物質微區元素成(chéng)分測定；配備一體化掃描透射(STEM)系統分辨率：0.2m（明場像線分辨率)，高角環形暗場探頭(HAADF)和明場探頭。